Taylor粗糙度儀Surtronic S116優(yōu)質(zhì)警校商

• 更新時(shí)間：2021-12-15
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Taylor粗糙度儀Surtronic S116優(yōu)質(zhì)警校商
篤摯儀器-優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值：始終不變的恪守誠(chéng)信，贏得了國(guó)內(nèi)外客戶和供應(yīng)商長(zhǎng)久不變的信任和支持。篤摯儀器總代理的新的Surtronic®S-116系列具有多功能性，可滿足大量表面測(cè)量應(yīng)用的粗糙度要求。 它具有一個(gè)50mm的觸控筆電動(dòng)機(jī)，具有直角連接和超過(guò)70mm的觸針距離，即使是*挑戰(zhàn)性的表面測(cè)量，也不需要使用昂貴的升降器，擋塊，支架或固定

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Taylor粗糙度儀Surtronic S116優(yōu)質(zhì)警校商

篤摯儀器-優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值：始終不變的恪守誠(chéng)信，贏得了國(guó)內(nèi)外客戶和供應(yīng)商長(zhǎng)久不變的信任和支持。篤摯儀器總代理的新的Surtronic®S-116系列具有多功能性，可滿足大量表面測(cè)量應(yīng)用的粗糙度要求。 它具有一個(gè)50mm的觸控筆電動(dòng)機(jī)，具有直角連接和超過(guò)70mm的觸針距離，即使是挑戰(zhàn)性的表面測(cè)量，也不需要使用昂貴的升降器，擋塊，支架或固定裝置。 實(shí)用和多功能的手寫(xiě)筆甚至可以顛倒的測(cè)量。

通過(guò)其行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的USB和USB迷你端口，Surtronic S116粗糙度儀為用戶提供了廣泛的連接選項(xiàng)。 多個(gè)部件的粗糙度測(cè)量可以?xún)?nèi)部存儲(chǔ)或保存到標(biāo)準(zhǔn)的USB存儲(chǔ)設(shè)備。 USB端口也可用于連接便攜式打印機(jī)，允許打印數(shù)據(jù)伴隨零件到下一階段的制造或zui終用途。 USB迷你端口可用于使用任何標(biāo)準(zhǔn)USB充電器或連接到PC進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和報(bào)告的設(shè)備充電。

Surtronic S-116堅(jiān)固耐用。 其橡膠，抗沖擊的身體提供保護(hù)和改善的舒適握力。 它包圍一個(gè)凹陷的，聚酯薄膜保護(hù)的高耐用觸摸屏和一個(gè)堅(jiān)固的不銹鋼驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，帶有耐磨齒輪和軸承。 該器件由3000mAh重型Li-Poly電池供電，可以從單次充電提供2000次測(cè)量。

數(shù)據(jù)顯示 ：
顯示屏每頁(yè)顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測(cè)試結(jié)果；
觸摸屏可以四個(gè)方向轉(zhuǎn)動(dòng)，方便不同位置觀看測(cè)試狀態(tài)；
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：
儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形
儀器支持U盤(pán)zui大4G，zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬(wàn)個(gè)測(cè)試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無(wú)限數(shù)據(jù)。
電源：
充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時(shí)間：4小時(shí)
電池壽命：充電一次可以做2000次測(cè)試
待機(jī)時(shí)間：5000小時(shí)
由待機(jī)狀態(tài)到開(kāi)機(jī)測(cè)試狀態(tài)，zui長(zhǎng)時(shí)間不超過(guò)1秒I
自動(dòng)關(guān)機(jī)：30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

表面處理參數(shù)適合您的應(yīng)用：
Surtronic S100可以根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用計(jì)算各種表面光潔度參數(shù)，包括：

幅度參數(shù)（測(cè)量表面偏差的垂直特性）：
Ra（算術(shù)平均偏差，以前稱(chēng)為CLA或AA）

Rsk（Skewness）

Rz（平均峰谷高度）

Rv（取樣長(zhǎng)度內(nèi)平均線以下的zui大剖面深度）

Rt（輪廓總高度）

Rp（zui大輪廓峰高）

Rz1max（也稱(chēng)為Ry或Rmaz）（Max Peak to valley）

間距參數(shù)（測(cè)量表面偏差的水平特征）：
RPc（峰值）

RSm（輪廓元素的平均寬度）

混合參數(shù)（間距和振幅參數(shù)的組合）：

Rmr（材料比）

Rdq - R Delta q（采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓的均方根斜率）

上述參數(shù)涵蓋了檢查潤(rùn)滑，進(jìn)料速率，應(yīng)力，摩擦和磨損性能的zui常見(jiàn)要求。

技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復(fù)精度 (Ra) ：1%測(cè)試值+底噪
傳感器原：電感
測(cè)量力：150-300mg
測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin)
可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描
校準(zhǔn)：
自動(dòng)軟件校準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287